
ワイヤボンド 2D / 3D 検査システム
半導体パッケージ向けの2D外観検査と3D光学検査。IC、コンデンサ、銀めっき、フレーム、ワイヤ、ボンドを対象とします。
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半導体パッケージ向けの2D外観検査と3D光学検査。IC、コンデンサ、銀めっき、フレーム、ワイヤ、ボンドを対象とします。
自動車のステアリングシャフト・ラックを対象に、耐久・衝撃試験後の摩耗と構造異常を検査します。

手動でサンプルをセットして位置決めし、顕微鏡の合焦法でWireBondのループ高さ、ボンド形状、ボンド位置を測定します。

パワーデバイスのワイヤ形状、ループ高さ、ボンド位置を検査します。

マイクロバンプの径・高さ・三次元形状を測定します。

パッケージ基板・フリップチップ基板向けの手動式はんだバンプ検査装置です。コプラナリティ、先端形状、付着異物を検査します。

密封型マイクロフォーカスX線源で内部を透視観察し、サンプル評価に活用します。

X線透視、供給、搬送、不良品処理を組み合わせ、封止デバイスの内部を検査します。

X線透視とコンベア搬送を組み合わせ、プリント基板・実装基板の内部を検査します。基板構造、検査領域、生産工程に合わせて撮像と自動化の構成を設計します。

色収差共焦点方式で、段差、突起、キズ、膜厚を測定します。

専用照明と画像処理により、トレイ上のガラスレンズの外観を自動検査します。

専用光学系、ラインカメラ、位置決め機構を組み合わせてピンゲージの外観を検査します。

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